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概述：
本儀器用于測量鍍膜玻璃的面電阻，或稱方塊電阻（Ohm/sq.）。
測量對象：表面導電的Low-E鍍膜玻璃
特性：
四探針式測量，準確度高；
探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易劃傷膜層；
測量速度快；
液晶屏顯示讀數(shù)；
帶有電量不足指示燈。
技術參數(shù)：
測量范圍：0.1-199.9 Ohm/sq.；
分辨率：0.1 Ohm/sq.；
精確性：0.9 % ；
外形尺寸：115mm×68mm×30mm；
重量：約 150g
說明：
檢測過程和讀數(shù)時都要保持儀器與待測樣片充分接觸；
為提高測量的精確度，最好在離待測樣片邊緣大于5cm的位置測量；
RC3175與RC2175相比，除測量范圍不同外，其他功能一致；
生產(chǎn)商：美國EDTM