概述:
本儀器用于測量鍍膜玻璃的面電阻,或稱方塊電阻(Ohm/sq.)。
測量對象:表面導電的Low-E鍍膜玻璃
特性:
四探針式測量,準確度高;
探針直徑大,針頭光滑,能伸縮,不易劃傷膜層;
測量速度快;
液晶屏顯示讀數(shù);
帶有電量不足指示燈。
技術參數(shù):
測量范圍:0.1-199.9 Ohm/sq.;
分辨率:0.1 Ohm/sq.;
精確性:0.9 % ;
外形尺寸:115mm×68mm×30mm;
重量:約 150g
說明:
檢測過程和讀數(shù)時都要保持儀器與待測樣片充分接觸;
為提高測量的精確度,最好在離待測樣片邊緣大于5cm的位置測量;
RC3175與RC2175相比,除測量范圍不同外,其他功能一致;
生產(chǎn)商:美國EDTM