原文來(lái)源：最正確的高低溫試驗(yàn)箱的測(cè)試方法(上) 編輯：偉思富奇
高低溫試驗(yàn)箱是用于電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行高溫或低溫試驗(yàn)，檢測(cè)其產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性;其測(cè)試方式主要還是要根據(jù)GB/T10592-2008的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行;溫度測(cè)試的方法其中包含：測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試程序、位置及數(shù)量、數(shù)據(jù)處理和試驗(yàn)結(jié)果;在下面小編會(huì)講到;
1.測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試程序：在試驗(yàn)箱可調(diào)的范圍內(nèi)，選取最高標(biāo)稱溫度和最低標(biāo)稱溫度，將試驗(yàn)箱按先低溫后高溫的程序運(yùn)行，在試驗(yàn)空間的中心點(diǎn)的溫度達(dá)到測(cè)試溫度并且保持恒定2小時(shí)，在30分鐘內(nèi)每一分鐘測(cè)試所有測(cè)試點(diǎn)的溫度1次，共30次;
2.測(cè)試點(diǎn)的位置：在試驗(yàn)空間內(nèi)定出上、中、下三個(gè)水平測(cè)試面，簡(jiǎn)稱上層、中層、下層;上層工作室的頂面的距離是工作室高度的十分之一，中層通過(guò)工作室?guī)缀沃行?，下曾在哎最低層樣品架上?0毫米處;測(cè)試點(diǎn)位于三個(gè)此時(shí)面上，中心測(cè)試點(diǎn)位于工作室?guī)缀沃行?，其余測(cè)試點(diǎn)在工作室壁的距離為各自邊長(zhǎng)的十分之一，但對(duì)工作室容積不大于1.3米的試驗(yàn)箱，高句麗不小于50毫米;
3.測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量：測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量與工作室容積大小的關(guān)系為：a.工作室容積不大于2m3時(shí)，溫度測(cè)試點(diǎn)為9個(gè);b.工作室容積大于2m3時(shí)，溫度測(cè)試點(diǎn)為15個(gè)，c.當(dāng)工作室容積大于50m3時(shí)，溫濕度測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量可以適當(dāng)增加;
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